使用NanoScan狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀

掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復原整個光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優點 :

取樣尺度可以到微米量級，遠小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬范圍波段；

單點探測器具備很高的動態范圍，一個探頭可同時適應弱光和強光分析。

掃描式光束分析儀的缺點 : 

多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優勢。

特點和功能

可測量連續激光以及大于 1kHz 重頻的脈沖激光·取樣間隔可以調節小到 5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

可顯示 2D/3D 光斑形貌

掃描速度可調諧

16 位數字化信號采集，35dB 高動態范圍，20Hz最刷新頻率·支持用戶進行二次開發，便于集成

探頭可添加功率計選項

硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別

不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑·所有的 NanoScan 的校準都可以朔源 NIST 標準以確保最終的精度·符合國際標準ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年Photon 公司主持了 ISO/DIN 的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標準)

NanoScan?激光光束輪廓分析儀為您提供前所未有的光束測量體驗。狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀的優點在于測量光束位置和大小時可獲得亞微米精度及NIST可追蹤精度。掃描頭配置包括硅、鍺或熱釋電版本，可用于廣泛的波長和激光功率級范圍。NanoScan軟件可提供兩種版本：標準版和專業版，并且包括廣泛的ISO定量測量和M2向導，并能測量激光功率。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8  7μm至~2.3mm

NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數據捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行全面分析。

光束尺寸7μm至~2.3mm

功率級范圍為~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或專業軟件