吉時利4200-SCS半導體特性分析系統

簡 述：

4200-SCS半導體特性分析系統是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統和吉時利交互式測試環境，為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能

特征：

• 運行 Clarius SWon Win7 嵌入式計算機的直觀、觸摸屏界面。獨特的可選遠程前置放大器將 SMU 的分辨率擴展至 10 aACV 儀器使 CV 測量像 DC IV 一樣簡單用于高級半導體測試的脈沖和脈沖 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脈沖測量功能獨立的 PC 提供快速的測試設置、強大的數據分析、圖形和打印以及測試結果的板載大容量存儲。配備嵌入式測量專業知識和數百個即用型應用測試，用于點擊式可靠性測試的內置壓力/測量、循環和數據分析，包括五個符合 JEDEC 標準的樣品測試集成支持各種 LCR 儀表、Keithley 開關矩陣配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脈沖發生器包括用于領先分析探針的軟件驅動程序

吉時利 4200A-SCS 半導體參數分析儀表征系統執行實驗室級 DC 和脈沖器件表征、實時繪圖和分析，具有高精度和亞 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步電流-電壓 (IV)、電容-電壓 (CV) 和超快脈沖 IV 測量。

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）