惠普4278A電容計HP4278A

4278A技術指標：
4278A測量參數 C-D，Q，ESR，G 
4278A測試信號 
4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02% 
HP4278A信號電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進 
HP4278A測量時間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值） 
HP4278A測量范圍 測量參數 1kHz 1MHz正常模式
1MHz*** 
4278A電纜長度補償 0,1或2m 
Agilent 4278A比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試 
存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用
（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 
4278A一般技術指標Agilent 4278A
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數:C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms) 
Agilent 4278A詳細資料：
HP4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
HP4278A測量參數:C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

技術指標：
測量參數
C-D，Q，ESR，G
測試信號
頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
信號電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進
測量時間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測量范圍
測量參數
1kHz
1MHz正常模式
1MHz***
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
電纜長度補償
0,1或2m

***回收各類進口電子儀器儀表如：NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、HIOKI（日置）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GW INSTEK （固緯）

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